電連接器用聚氨酯膠密封件貯存可靠性統(tǒng)計(jì)模型的加速試驗(yàn)驗(yàn)證與評(píng)估

摘要： 針對(duì)電連接器用聚氨酯膠密封件在長(zhǎng)貯條件下的壽命評(píng)估問(wèn)題，從機(jī)理層面分析了聚氨酯膠密封件內(nèi)聚破壞和邊界破壞導(dǎo)致性能下降的原因。依據(jù)從機(jī)理層面建立的電連接器用聚氨酯膠密封件貯存可靠性統(tǒng)計(jì)模型，利用聚氨酯膠密封件溫濕度綜合應(yīng)力加速退化試驗(yàn)數(shù)據(jù)，綜合應(yīng)用粒子群優(yōu)化算法和回歸分析、AD檢驗(yàn)及擬合優(yōu)度等檢驗(yàn)方法，從數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)層面驗(yàn)證了電連接器用聚氨酯膠密封件失效物理方程和退化軌跡模型的合理性...